半導體和電子行業(yè)解決方案系列網(wǎng)絡研討會
編輯： 發(fā)布時間：2021-10-18 瀏覽：2490
首日將由行業(yè)專家分享半導體器件失效分析及表征方面的經(jīng)驗，以及先進封裝技術(shù)的行業(yè)趨勢和解決方案，并在當天現(xiàn)場演示在蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM上搭載Kleindiek納米探針的解決方案和能力。
會議第二天將聚焦于蔡司及其合作伙伴針對先進封裝行業(yè)的解決方案，并展示如何利用行業(yè)領(lǐng)先的X射線顯微鏡平臺進行無損成像，以及如何通過先進的機器學習來提高圖像質(zhì)量和通量。最后還將在線實時演示蔡司激光雙束技術(shù)（LaserFIB）在電子封裝失效分析和開發(fā)中的應用。敬請期待更多行業(yè)演講嘉賓，期待您撥冗參加！
